EMC510018-41000315DO/ME (20153) - Cristalografia e Difratometria de Raios-X

Introdução à geração de raios-X e suas utilidades. Descrição de um cristal e suas
redes (Bravais). Indexação de índices e planos (Miller). Caracterização de um
difratograma de raios-X. Fator de estrutura das fases. Exemplos práticos de
materiais cristalinos, semi-cristalinos, nanocaristalinos e amorfos.

PROGRAMA PRELIMINAR:
1. Aulas Teóricas
1.1. Introdução à geração de raios-X e suas utilidades. (1ª semana)
1.2. Descrição de um cristal e suas redes (Bravais). Indexação de índices e planos
(Miller). (2ª semana)
1.3. Caracterização de um difratograma de raios-X. Fator de estrutura das fases.
(2ª semana)
1.4. Exemplos práticos de materiais cristalinos, semi-cristalinos, nanocaristalinos
e amorfos. (3ª e 4ª semana)

2. Aulas Práticas
2.1. Instrumentação, preparação de amostra e parâmetros de medida. Uso do
banco de dados e função instrumental. (5ª semana)
2.2. Estudo de Caso I: Metais - GSAS (6ª semana)
2.3. Estudo de Caso II: Cerâmicos - MAUD (7ª semana)
2.4. Estudo de Caso III: Vidros - FULLPROF (8ª semana)
2.5. Estudo de Caso IV: Polímeros - DBWS (9ª semana)

3. Sistema de Avaliação
Prova escrita (parte teórica) = 1/3 média final
Trabalho e apresentação (parte prática) = 2/3 média final

4. Bibliografia
Kittel, C. \"Introdução à Física do Estado Sólido\"
Jenkins, R. Snyder, R.L. \"Introduction to X-ray Powder Diffractometry\"
Cullity, B.D. \"Elements of X-ray diffraction\"
Young, R.A. \"Rietveld Method\"